How to perform the SOC test with reduction the development cycle time and production cost without scarifying the performance is the challenge confronted by design engineer and test engineer.
如何在缩短设计周期、降低芯片成本而又不损失芯片性能
前提下
成SOC系统芯片测试是芯片设计工程师和测试工程师当前所要面对
。
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如何在缩短设计周期、降低芯片
本而又不损失芯片性能的前提下SOC系统芯片的测试是芯片设计工程师和测试工程师当前所要面对的挑战。
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How to perform the SOC test with reduction the development cycle time and production cost without scarifying the performance is the challenge confronted by design engineer and test engineer.
如何在缩短设计周期、降低
成本而又
性能的前提下成SOC系统的测试
设计工程师和测试工程师当前所要面对的挑战。
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How to perform the SOC test with reduction the development cycle time and production cost without scarifying the performance is the challenge confronted by design engineer and test engineer.
如何在缩短设计周期、降低芯片成本而又不损失芯片性能的前提下成SOC系统芯片的测试是芯片设计工程师和测试工程师当前所要面对的挑战。
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How to perform the SOC test with reduction the development cycle time and production cost without scarifying the performance is the challenge confronted by design engineer and test engineer.
如何在缩短
周期、降低芯成本
损失芯性能的前提下成SOC系统芯的测试是芯工程师和测试工程师当前所要面对的挑战。
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How to perform the SOC test with reduction the development cycle time and production cost without scarifying the performance is the challenge confronted by design engineer and test engineer.
如何在缩
周期、降低芯片成本而又不损失芯片性能的
提下成SOC系统芯片的测试是芯片工程
和测试工程
所要面对的挑战。
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如何在缩短设计周期、降低芯片成本而又不损失芯片性能前提下成SOC系统芯片测试是芯片设计工程师和测试工程师当前所要面对。
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始How to perform the SOC test with reduction the development cycle time and production cost without scarifying the performance is the challenge confronted by design engineer and test engineer.
如何在缩短设计周期、降低芯片成本而又不损失芯片性能的前提下成SOC系统芯片的测试是芯片设计工程师和测试工程师当前所要面对的挑战。
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缩短设计周期、降低芯片成本而又不损失芯片性能的前提下成SOC系统芯片的测试是芯片设计工程师和测试工程师当前所
的挑战。
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