How to perform the SOC test with reduction the development cycle time and production cost without scarifying the performance is the challenge confronted by design engineer and test engineer.
如何在缩短设
周期、降低芯片
又不损失芯片性能的前提下
SOC系统芯片的测试是芯片设
师和测试师当前所要面对的挑战。
声明：以上例句、词性分类均由互联网资源自动生
，部分未经过人
审核，其表达内容亦不代表
软件的观点；若发现问题，欢迎向我们指正。
How to perform the SOC test with reduction the development cycle time and production cost without scarifying the performance is the challenge confronted by design engineer and test engineer.
如何在缩短设计周期、降低芯片本而又不损失芯片性能的前
SOC
统芯片的测试是芯片设计工程师和测试工程师当前所要面对的挑战。
声明：以上例句、词性分类均由互联网资源自动生，部分未经过人工审核，其表达内容亦不代表本软件的观点；若发现问题，欢迎向我们指正。
How to perform the SOC test with reduction the development cycle time and production cost without scarifying the performance is the challenge confronted by design engineer and test engineer.
如何在缩短设计周期、降低
片成本而又不损失片性能
下成SOC
片测试是片设计工程师和测试工程师当所要面对挑战。
声明：以上例句、词性分类均由互联网资源自动生成，部分未经过人工审核，其表达内容亦不代表本软件
观点；若发现问题，欢迎向我们指正。
How to perform the SOC test with reduction the development cycle time and production cost without scarifying the performance is the challenge confronted by design engineer and test engineer.
如何在缩短设计周期、降低芯片成本而又不损失芯片性能的前提下成SOC系统芯片的测试是芯片设计工程师和测试工程师当前所要面对的挑战。
：
上例句、词性分类均由互联网资源自动生成，部分未经过人工审核，其表达内容亦不代表本软件的观点；若发现问题，欢迎向我们指正。
How to perform the SOC test with reduction the development cycle time and production cost without scarifying the performance is the challenge confronted by design engineer and test engineer.
如何在缩
周期、降低芯片成本而又不损失芯片性能的提下成SOC系统芯片的测试是芯片工程
和测试工程
所要面对的挑战。
声明：以上例句、词性分类均由互联网资源自动生成，部分未经过人工审核，其表达内容亦不代表本软件的观点；若发现问题，欢迎向我们指正。
How to perform the SOC test with reduction the development cycle time and production cost without scarifying the performance is the challenge confronted by design engineer and test engineer.
如何在缩短设计周期、降低芯片成本而又不损失芯片性能的前提下成SOC系统芯片的测试是芯片设计工程师和测试工程师当前所要面对的
。
明：以上
、词性分类均由互联网资源自动生成，部分未经过人工审核，其表达内容亦不代表本软件的观点；若发现问题，欢迎向我们指正。
How to perform the SOC test with reduction the development cycle time and production cost without scarifying the performance is the challenge confronted by design engineer and test engineer.
如何在缩短设计周期、降低
成本而又
性能的前提下成SOC系统的测试
设计工程师和测试工程师当前所要面对的挑战。
声明：以上例句、词性分类均由互联网资源自动生成，部分未经过人工审核，其表达内容亦
代表本软件的观点；若发现问题，欢迎向我们指正。
人，员How to perform the SOC test with reduction the development cycle time and production cost without scarifying the performance is the challenge confronted by design engineer and test engineer.
如何在缩短设计周期、降低芯片成本而又不损失芯片性能的前提下成SOC系统芯片的测试是芯片设计工程师和测试工程师当前所要面对的挑战。
声明：以上例句、词性
由互联网资源自动生成，部未经过人工审核，其表达内容亦不代表本软件的观点；若发现问题，欢迎向我们指正。
How to perform the SOC test with reduction the development cycle time and production cost without scarifying the performance is the challenge confronted by design engineer and test engineer.
如何在缩周期、降低芯片成本而又不损失芯片性能的提下成SOC系统芯片的测试是芯片工程和测试工程所要面对的挑战。
声明：以上例句、词性分类均由互联网资源自动生成，部分未经过人工审核，其表达内容亦不代表本软件的观点；若发现问题，欢迎向我们指正。