How to perform the SOC test with reduction the development cycle time and production cost without scarifying the performance is the challenge confronted by design engineer and test engineer.
如何在缩短设计周
、
芯片成本而又不损失芯片性能的前提下
成SOC系统芯片的
是芯片设计
程师和程师当前所要面对的挑战。
声明：以上例句、词性分类均由互联网资源自动生成，部分未经过人
审核，其表达内容亦不代表本软件的观点；若发现问题，欢迎向我们指正。
换[反]脉冲起始How to perform the SOC test with reduction the development cycle time and production cost without scarifying the performance is the challenge confronted by design engineer and test engineer.
如何在缩短设计周期、降低芯片
本而又不损失芯片性能的前提下SOC系统芯片的测试是芯片设计工程师和测试工程师当前所要面对的挑战。
声明：以上例句、词性分类均由互联网资源自
，部分未经过人工审核，其表达内容亦不代表本软件的观点；若发现问题，欢迎向我们指正。
How to perform the SOC test with reduction the development cycle time and production cost without scarifying the performance is the challenge confronted by design engineer and test engineer.
如何在缩短设计周期、降低芯片本而又不损失芯片性能的
SOC
芯片的测试是芯片设计工程师和测试工程师当所要面对的挑战。
声明：以上例句、词性分类均由互联网资源自动生，部分未经过人工审核，其表达内容亦不代表本软件的观点；若发现问题，欢迎向我们指正。
How to perform the SOC test with reduction the development cycle time and production cost without scarifying the performance is the challenge confronted by design engineer and test engineer.
如何在缩短设计周期、降低芯片成本而又不损失芯片性能的前提下成SOC系统芯片的测试是芯片设计工程师和测试工程师当前所要面对的挑战。
声明：以上例句、词性分类均由互联网资源自动生成，部分
人工审核，其表达内容亦不代表本软件的观点；若发现问题，欢迎向我们指正。
人，社会
How to perform the SOC test with reduction the development cycle time and production cost without scarifying the performance is the challenge confronted by design engineer and test engineer.
如何在缩短设计周期、降低芯片成本而又不损失芯片性能的前提下成SOC系统芯片的测试是芯片设计工程师和测试工程师当前所要面对的挑战。
声明：
句、词性分类均由互联网资源自动生成，部分未经过人工审核，其表达内容亦不代表本软件的观点；若发现问题，欢迎向我们指正。
[
]脉冲起始How to perform the SOC test with reduction the development cycle time and production cost without scarifying the performance is the challenge confronted by design engineer and test engineer.
如何在缩短设计周期、降低芯片成本而又不损失芯片性能的前提下成SOC系统芯片的测试是芯片设计工程师和测试工程师当前所要面对的挑战。
声明：以上例句、词性分类均由互联网
动生成，部分未经过人工审核，其表达内容亦不代表本软件的观点；若发现问题，欢迎向我们指正。
How to perform the SOC test with reduction the development cycle time and production cost without scarifying the performance is the challenge confronted by design engineer and test engineer.
如何在缩短设计周期、降低
片成本而又不
片性能的前提下成SOC系统片的测
片设计工程师和测工程师当前所要面对的挑战。
声明：以上例句、词性分类均由互联网资源自动生成，部分未经过人工审核，其表达内容亦不代表本软件的观点；若发现问题，欢迎向我们指正。
[反]脉冲起始How to perform the SOC test with reduction the development cycle time and production cost without scarifying the performance is the challenge confronted by design engineer and test engineer.
如何在缩短设计周期、降低芯片成本而又不损失芯片性能的前提下成SOC系统芯片的测试是芯片设计工程师和测试工程师当前所要面对的挑战。
声明：以上例句、词性分类均由互联网资源成，部分未经过人工审核，其表达内容亦不代表本软件的观点；若发现问题，欢迎向我们指正。
How to perform the SOC test with reduction the development cycle time and production cost without scarifying the performance is the challenge confronted by design engineer and test engineer.
如何在缩短设计周期、降低芯片成本而又不损失芯片性能的前提下成SOC系统芯片的测试是芯片设计工程师和测试工程师当前所要面对的挑战。
声明：以上例句、词性分类均
网资源自动生成，部分未经过人工审核，其表达内容亦不代表本软件的观点；若发现问题，欢迎向我们指正。